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                           聚焦激光光谱成像系统

               实现系统供应・方案定制・技术服务一体化

系统介绍

   分子滤波瑞利散射（FRS）系统是一种基于瑞利散射原理以及分子滤波技术相融合的综合性试验平台。系统由窄线宽激光器、分子滤波器、弱信号探测器构成。瑞利散射信号强度与流场分子的密度成正比，信号图像可以直观反映流场的结构分布。该技术解决了传统瑞利散射信号易受背景杂散光和米散射干扰的问题，能在恶劣环境下实现高精度测量。


系统特点 

  • 非接触式测量  无需在流场中引入物理探针，对流场无干扰
  • 抗干扰能力强  精准的分子滤波技术可充分滤除大部分的干扰信号
  • 多参数测量    通过谱线展宽特性，反推流场的温度、压力、速度等关联参数

非接触测量无需在流场中引入物理探针，对流场无干扰；

抗干扰能力强精准的分子滤波技术可充分滤除大部分的干扰信号
多参数测量通过谱线展宽特性，反推流场的温度、压力、速度等关键参数


技术原理

 流场中气体分子产生瑞利散射，同时伴随与激光同频的杂散光（如壁面、粒子散射）；接着让散射光穿过含碘蒸气等的分子滤波池，杂散光因频率、线宽与激光一致，会被滤波池的窄吸收峰完全吸收，而瑞利散射光因分子热运动产生谱线展宽，部分能透过滤波池；不同温度 / 压力下，分子热运动强度不同，瑞利散射谱线展宽程度有差异，对应透过滤波池的光强也不同。最后用探测器接收透过的瑞利散射光，根据光强反推流场温度、压力等参数。